Servicios

El Departamento de Física ofrece los siguientes servicios en Microscopía Electrónica de Barrido:

Metalización de superficies

Metalizado de superficies

análisis con Microscopía electrónica de barrido

Visualización de micro y nano-estructuras, obtención de tamaño de micro y nano-partículas, análisis estadístico de distribuciones de tamaño de partículas, análisis topográfico y morfología de superficies.

Análisis Elemental

Generación de mapas de composición elemental a partir de la radiación de rayos X característicos que emite la muestra como resultado del bombardeo de electrones.

TÉCNICAS DE PREPARACIÓN DE MUESTRAS


Una muestra no conductora necesita recubrirse con un material que la haga conductora para inhibir los riesgos de carga y daños térmicos en la muestra. En algunos casos, el recubrimiento metálico delgado también ayuda a mejorar la señal de emisión de electrones secundarios para el examen topográfico en el SEM.

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Para obtener una imagen de una muestra biológica con SEM, la muestra necesita una superficie conductora y debe colocarse dentro de un alto vacío; debido a la naturaleza intrínseca de las interacciones de electrones y materia que son responsables de la formación de imágenes. Por lo tanto, los especímenes biológicos no se pueden visualizar en su estado original y deben procesarse intensamente. Por ello, la preparación de la muestra es un paso crucial.


Las muestras destinadas al SEM deben cumplir dos condiciones: estar secas y ser conductoras.

No se requieren técnicas muy elaboradas de preparación de muestras para el examen en el SEM, y pueden acomodarse muestras grandes y voluminosas. Es deseable que la muestra se vuelva eléctricamente conductora; de lo contrario, no se obtendrá una imagen nítida.

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